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| 测量固体材料的太阳吸收和法向发射特性测量装置 |
测量固体材料的太阳吸收和法向发射特性测量装置
MJLD型吸收率和法向发射率测量装置
产品介绍
MJLD型吸收率和法向发射率测量装置，主要用于测量材料的太阳吸收比和法向发射率。它是将吸收率测量装置和法向发射率测量装置合为一体，配有计算机和专用工作软件，实现自动测量的先进测量设备。本装置是由国防航天军工科技企业和航天著名专家研究员联合研制。是航天系统测量专家的智慧结晶。本设备是国内首创，填补国内测量材料太阳吸收比和法向发射率仪器的空白，同时在测量方法上有进一步的创新。
主要用途
测量固体材料的太阳吸收和法向发射特性。
技术指标
吸收率
◆测量范围：0.02～0.99
◆工作温度范围：-30～80℃
◆测量不确定度：当αs＞0.8 为±2.0％；当εn＜0.2 为±4％；其余为2.5％
◆积分球直径：Φ150
◆光源高色温：220V300W
◆探测器：真空平面热电堆
◆工作波长：0.3 5～2.5μm
法向发射率
◆测量范围：0.05～0.99
◆工作温度范围：-30～80℃
◆测量不确定度：当εn＞0.7 为±1.5％；当εn＜0.2 为±5％；其余为2％
◆探测器：平面热电堆
◆峰值波长：8.4～11μm |
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